X射线晶圆制造厚度测量设备
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:原理;4:品牌（中文或外文名称）;5:型号;6:GTIN;7:CAS;8:其他;
不带记录装置的五位半及以下的数字万用表（用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌（中文或外文名称）;7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
不带记录装置的其他万用表（用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌（中文或外文名称）;7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
带记录装置的万用表（用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌（中文或外文名称）;7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
不带记录装置的五位半及以下的数字电流、电压表（用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌（中文或外文名称）;7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
不带记录装置的电阻测试仪（用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:是否带记录装置;5:品牌（中文或外文名称）;6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器（用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:是否带记录装置;5:品牌（中文或外文名称）;6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器（万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:是否带记录装置;5:品牌（中文或外文名称）;6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:是否带记录装置;5:品牌（中文或外文名称）;6:型号;7:测试结果显示内容（例如，电压值、电流值等）;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具（第90章其他税目未列名的）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:品牌（中文或外文名称）;5:型号;6:GTIN;7:CAS;8:其他;
