其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器（万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:是否带记录装置;5:品牌（中文或外文名称）;6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具（第90章其他税目未列名的）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:品牌（中文或外文名称）;5:型号;6:GTIN;7:CAS;8:其他;
其他无损探伤检测仪器(射线探伤仪除外)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:原理;4:功能;5:品牌（中文或外文名称）;6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
其他X光检查造影剂、诊断试剂
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:成分;4:品牌（中文或外文名称）;5:型号;6:包装规格;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
半导体检测分选编带机专用零件
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途（适用于XX品牌XX机或通用于XX机等）;3:品牌（中文或外文名称）;4:型号;5:GTIN;6:CAS;7:其他;
