X射线晶圆制造厚度测量设备
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:原理;4:品牌(中文或外文名称);5:型号;6:GTIN;7:CAS;8:其他;
液位仪用探棒
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途(适用于XX品牌XX机或通用于XX机等);3:品牌(中文或外文名称);4:型号;5:GTIN;6:CAS;7:其他;
不带记录装置的五位半及以下的数字万用表(用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌(中文或外文名称);7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
不带记录装置的其他万用表(用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌(中文或外文名称);7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
带记录装置的万用表(用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌(中文或外文名称);7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
不带记录装置的五位半及以下的数字电流、电压表(用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌(中文或外文名称);7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
不带记录装置的电阻测试仪(用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:是否带记录装置;5:品牌(中文或外文名称);6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
不带记录装置的检测电压、电流及功率的其他仪器(用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:是否带记录装置;5:品牌(中文或外文名称);6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
其他带记录装置的检测电压、电流、电阻或功率的仪器(万用表除外,用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:是否带记录装置;5:品牌(中文或外文名称);6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:是否带记录装置;5:品牌(中文或外文名称);6:型号;7:测试结果显示内容(例如,电压值、电流值等);8:GTIN;9:CAS;10:其他;