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圆餐台
数据更新:1970年01月01日
制导装置(使300km射程导弹达到≤10km圆公算偏差)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:品牌(中文或外文名称);4:型号;5:GTIN;6:CAS;7:其他;
用于电气控制或电力分配的盘、板、台、柜及其他基座,装有两个或多个税目85.35或85.36所列的装置,包括装有第九十章所列的仪器或装置,以及数控装置,但税目85.17的交换机除外:
绘图台及绘图机,不论是否自动
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:品牌(中文或外文名称);5:型号;6:GTIN;7:CAS;8:其他;
X射线全自动燃料芯块检查台(专门设计或制造用于检验燃料芯块的最终尺寸和表面缺陷)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:原理;4:品牌(中文或外文名称);5:型号;6:GTIN;7:CAS;8:其他;
X射线晶圆制造厚度测量设备
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:原理;4:品牌(中文或外文名称);5:型号;6:GTIN;7:CAS;8:其他;
γ射线全自动燃料芯块检查台(专门设计或制造用于检验燃料芯块的最终尺寸和表面缺陷)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:原理;4:品牌(中文或外文名称);5:型号;6:GTIN;7:CAS;8:其他;
集成电路生产用氦质谱检漏台
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:原理;3:功能;4:检测对象;5:品牌(中文或外文名称);6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
不带记录装置的五位半及以下的数字万用表(用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌(中文或外文名称);7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
不带记录装置的其他万用表(用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌(中文或外文名称);7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
带记录装置的万用表(用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外)
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌(中文或外文名称);7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;