X射线晶圆制造厚度测量设备
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:原理;4:品牌（中文或外文名称）;5:型号;6:GTIN;7:CAS;8:其他;
液位仪用探棒
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途（适用于XX品牌XX机或通用于XX机等）;3:品牌（中文或外文名称）;4:型号;5:GTIN;6:CAS;7:其他;
使用光学射线(紫外线、可见光红外线)的分光仪、分光光度计及摄谱仪
其他分光仪、分光光度计及摄谱仪（使用光学射线(紫外线、可见光、红外线)的）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:原理;3:功能;4:检测对象;5:品牌（中文或外文名称）;6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
其他使用光学射线的其他仪器及装置（光学射线是指紫外线、可见光、红外线）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:原理;3:功能;4:检测对象;5:品牌（中文或外文名称）;6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
不带记录装置的五位半及以下的数字万用表（用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌（中文或外文名称）;7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
不带记录装置的其他万用表（用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌（中文或外文名称）;7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
带记录装置的万用表（用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌（中文或外文名称）;7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
不带记录装置的五位半及以下的数字电流、电压表（用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:量程;5:是否带记录装置;6:品牌（中文或外文名称）;7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
不带记录装置的电阻测试仪（用于测试或检验半导体晶圆或器件用的除外）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:是否带记录装置;5:品牌（中文或外文名称）;6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
