集成电路生产用氦质谱检漏台
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:原理;3:功能;4:检测对象;5:品牌（中文或外文名称）;6:型号;7:GTIN;8:CAS;9:其他;
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测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:是否带记录装置;5:品牌（中文或外文名称）;6:型号;7:测试结果显示内容（例如，电压值、电流值等）;8:GTIN;9:CAS;10:其他;
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制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具（第90章其他税目未列名的）
申报要素 » 0:品牌类型;1:出口享惠情况;2:用途;3:功能;4:品牌（中文或外文名称）;5:型号;6:GTIN;7:CAS;8:其他;
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